TH510系列半導體器件C-V特性分析儀

性能特點

■ 10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800，Linux系統

■ 雙CPU架構LCR，*快達0.56ms（1800次/秒）的測試速度

■ 點測、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測試方式

■ 四寄生參數（Ciss、Coss、Crss、Rg）同屏測量及顯示

■ 快速導通測試Cont

■ 一體化設計：LCR+高壓源+通道切換

■ 標配2通道測試，可同時測試兩個器件或雙芯片器件，通道

*多可擴展至6通道，通道參數單獨保存

■ 快速充電，縮短電容充電時間，實現快速測試

■ 自動延時設置

■ 高偏置：VGS：0 - ±40V，VDS：0 – 200V/1500V

■ 10檔分選

應用

■ 半導體元件/功率元件

二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

■ 半導體材料

晶圓、C-V特性分析

■ 液晶材料

彈性常數分析